一、考试要求：
要求学生全面系统地掌握材料现代检测技术（x射线衍射技术及在材料中的应用、电子显微分析技术及在材料中的应用）的基本概念和基本原理，并能够对基本原理进行灵活运用，具有较强的材料检测分析问题、解决问题的能力。
二、考试内容：
1．x射线物理学基础及运动学衍射理论
● x射线的本质及x射线谱
● x射线与物质的相互作用
● x射线衍射与布拉格方程
● 倒易点阵
● x射线衍射强度与结构因数的计算
2．x射线衍射方法及物相分析
● 粉末照相法
● x射线衍射仪法
● 物相的定性分析
● 物相的定量分析
3．x射线在材料测试分析方面的其他应用
● 点阵常数的精确测定
● 宏观应力的测定
● 晶粒大小的测定
● 单晶体取向的测定
● 织构的测定
4．电子与物质的交互作用
● 弹性散射与非弹性散射
● 高能电子与样品物质交互作用产生的电子信息
5． 透射电子显微分析
● 透射电镜的结构及应用
● 电子衍射及结构分析
● 材料薄膜样品的制备与薄晶体样品的衍衬成像原理
6．扫描电子显微分析
● 扫描电镜工作原理、构造和性能
● 扫描电镜在材料研究中的应用
● 波谱仪及应用
● 能谱仪及应用
● 电子探针分析方法及微区成分分析技术
三、 试卷结构：
题型结构：
●基本概念题
●基本简答题
●论述题
四、参考书目
《材料近代分析测试方法》哈尔滨工业大学出版社，1999（第一版），常铁军， 祁欣
《材料分析方法》哈尔滨工业大学出版社，周玉，2000（第一版）
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